Low-energy electron microscopy
Low-energy electron microscopy, or LEEM, is a technique used by
surface scientists to study surface structure at
mesoscopic scale on conducting and semiconducting materials. It is based on imaging the electrons elastically scattered from the surface. The high signal levels allow one to literally observe the motion of atomic steps on flat surfaces in real time during film deposition, exposure to reactive gases, or during heating and cooling. It is a powerful complement to
scanning tunneling microscopy (STM), which has better spatial resolution than LEEM, but is usually less applicable to the study of dynamic processes.
See more at Wikipedia.org...
Les Entreprises du médicament
LEM
Leem
Lem
Düşük enerjili elektron mikroskobu
Düşük enerjili elektron mikroskobu, veya LEEM (Low Energy Electron Microscope), maddelerin yüzeylerini mezoskopik boyutlarda incelemeye yarayan bir elektron mikroskobu çesididir. Elastik olarak yüzeyden geri saçılan düşük enerjili (0-500
elektronvolt)
elektronların görüntülenmesi üzerine kuruludur. Yüzeylerin yapısal ve kimyasal özelliklerinin 10
nanometreye varan bir çözünürlükte incelenmesini sağlar. İnce filimler,
katalitik yüzeyler,
nanoteknolojik sistemler ile ilgili çalışmalardaki öneminin ötesinde, bu mikroskoptaki yüksek sinyal seviyeleri yüzeydeki dinamik degişimleri video hızında canlı olarak takip etmeye olanak tanır.
Daha fazlası için Wikipedia.org adresine gidin…
leem (de/het)
n.
loam, clay, malm, mud