Automatic or Automated Test Equipment (ATE) is any apparatus that performs tests on a device, known as the Device Under Test (DUT), using automation to quickly perform measurements and evaluate the test results. An ATE can be a simple computer controlled digital multimeter, or a complicated system containing dozens of complex test instruments (real or simulated electronic test equipment) capable of automatically testing and diagnosing faults in sophisticated electronic packaged parts or on Wafer testing, including System-On-Chips and Integrated circuits.

Automatic Test Equipment (ATE) ist ein allgemeiner Begriff für messtechnische Apparaturen, die von der Chip- und Elektronik-Industrie während der Produktion zum testen benutzt werden.

• Integrierter Schaltkreise im Wafertest oder Chip- und Modul-Test;
• analoger Bauteile im eingelöteten Zustand;
• von Leiterplatten;

I sistemi di collaudo automatico, comunemente definiti con l'acronimo inglese ATE (Automatic Test Equipment), sono tutti quei dispositivi usati per collaudare schede a circuito stampato, circuiti integrati, o qualsiasi altro componente o modulo elettronico correlato. In molti casi è costituito da una vera e propria stazione di lavoro automatica, installata alla fine della linea di produzione, preposta al collaudo del prodotto finito, ad esempio un televisore o un computer.

ATE是Automatic Test Equipment的縮寫, 於半導體產業意指積體電路(IC)自動測試機, 用於檢測積體電路功能之完整性, 為積體電路生產製造之最後流程, 以確保積體電路生產製造之品質.