回折(かいせつ、Diffraction)とは媒質中を伝わる
波(または
波動)に対し障害物が存在する時、波がその障害物の背後など、つまり一見すると幾何学的には到達できない領域に回り込んで伝わっていく現象のことを言う。障害物に対して波長が大きいほど回折角(障害物の背後に回り込む角度)は大きい。単色
光を十分に狭いスリットに通しスクリーンに当てると、回折によって光のあたる範囲が広がり、
干渉によって縞模様ができる。この現象は、量子性が顕著となる粒子の
ビーム(例:
電子線、
中性子線など)でも起こる(参照:
物質波)。電子線や中性子線などを
結晶などに当てて得られる回折像から結晶構造の解析を行うことができる。これは電磁波である
X線でも同様な結晶構造の解析を行うことができる。それぞれ電子線回折法、中性子線回折法、X線回折法として結晶構造の解析手法が確立されている。
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